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影響EPK測(cè)厚儀精度的因素有哪些？
更新時(shí)間：2021-08-26 點(diǎn)擊次數(shù)：762次
EPK測(cè)厚儀是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
可以用來在線測(cè)量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。
影響EPK測(cè)厚儀精度的因素有哪些？
第—：附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
第二：強(qiáng)磁場的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
第三：儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
第四：在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體。基體小平面為10mm，小厚度為0.45mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
第五：人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
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